-
一、场发射透射电子显微镜（TEM）
日本电子 JEM-2100F
点分辨率:0.19nm
STEM分辨率：0.2nm
放大倍数：50-1,500,000x
能谱仪（EDS） 能量分辨率：～130eV(MnKα线) 元素范围：4Be～98Cf
极靴：超高分辨（UHR）
线分辨率：0.14nm
加速电压：80-200KV
可用于观察除磁性材料外的任何无机材料微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶体结构和组成结构相变原位研究。
-
二、 起重机械网络控制与传动电控实验室
实验室以网络控制、无线通信为平台，已先后开发出了双桥式起重机MPI网络通信系统，平移式缆机无线通信系统，大吨位高速比（速比可达1:50）变频调速系统及缆索起重机、门座起重机和大跨度门式起重机动态模拟监控系统，这些技术已被运用于各类起重机，大大提高了产品的自动化水平。
解决了传统方法重机设计中花费时间长、分析的部位具有局限性的缺点。同时，先进的设计理念结合科学的计算方法使我们的产品结构更优、应力分布更合理、运行稳定和反应敏捷。
-
三、场发射扫描电镜(FE-SEM)
德国蔡司 Supra 55
分辨率:0.8nm@15 kV 1.6nm@1 kV
加速电压0.02-30kV
放大倍数：12-1,000,000x
样品室尺寸：330mm(Φ)*270(h)
附件：EDS、BSE、离子溅射仪
可用于观察金属、陶瓷、半导体、生物等样品表面的微细形貌、断口及内部组织，并对样品表面微区成分进行定性和定量分析。
-
四、X射线衍射仪(XRD)
荷兰帕纳科 X’Pert Powder
X射线源：最大功率：3kW
X光管(Cu靶)：最大功率：2.2kW,
θ/θ扫描范围：0.2-150°
角度重复性：+/-0.0001
配置薄膜附件，可测量薄膜样品中层的厚度和粗糙度等。
可为材料、机械、半导体、地矿、药物、陶瓷等行业提供物相分析。
